LJD-B型介質(zhì)損耗測試儀器

一、概述：

LJD-B型介質(zhì)損耗測試儀器是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產(chǎn)品改進升級；特別是在軟件上不斷地加以*，改進了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測試精度，并增加新的功能。

二、技術(shù)參數(shù)：

信號源頻率范圍：      DDS數(shù)字合成 10KHz-70MHz     

Q測量范圍：          1-1000自動/手動量程

信號源頻率覆蓋比：   6000:1   

Q分辨率：                  4位有效數(shù),分辨率0.1

信號源頻率精度：       3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù) 

Q測量工作誤差：           <5%

電感測量范圍：               15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH

調(diào)諧電容：                  主電容30-500PF

電感測量誤差：               <5%

調(diào)諧電容誤差和分辨率：±1.5P或<1%

標準測量頻點：               全波段任意頻率下均可測試    

Q合格預(yù)置范圍：           5-1000聲光提示

諧振點搜索：          自動掃描        

Q量程切換：              自動/手動

諧振指針：                  LCD顯示

LCD顯示參數(shù)：              F,L,C,Q,波段等

三、夾具工作特性

1.平板電容器：

片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可選

片間距可調(diào)范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

四、配置：

主機一臺

電感九支

夾具一套

隨機文件一套

我公司所有產(chǎn)品質(zhì)保兩年終身維修，請放心購買。